高場寬頻譜介電測量系統(tǒng)當(dāng)通過LCR Meter或者分析儀（Agilent/Keysight 4284A, E4980A,4294A）測量介電常數(shù)時(shí)，加載電壓通常1V左右；然而，很多壓電陶瓷（PZT）和高分子（PVDF）對于加載的電場具有非線性響應(yīng)；通常它們的介電常數(shù)和損耗因子在高壓下變得更低。

高分子壓電系數(shù)測試儀其分辨率可達(dá)0.01pC/N，采用多種測量模式，在測量壓電系數(shù)的同時(shí)，可記錄d31, d15, 電容、電量、tan δ等參數(shù)，并也可計(jì)算g33、g31和g15，介電常數(shù)和εT33等。用于鐵電、壓電、高分子薄膜材料以及相關(guān)器件性能的評價(jià)與測試；